Açıklama

Tungsten Filament SEM | SEM3300 Next-generation Tungsten Filament Scanning Electron Microscope

Tungsten Filament SEM | SEM3300

Next-generation Tungsten Filament Scanning Electron Microscope

CIQTEK SEM3300 taramalı elektron mikroskobu (SEM), “Süper Tünel” elektron optiği, lens içi elektron dedektörleri ve elektrostatik ve elektromanyetik bileşik objektif lens gibi teknolojileri bünyesinde barındırmaktadır. Bu teknolojilerin tungsten filament mikroskobuna uygulanmasıyla, bu tür SEM’lerin uzun süredir devam eden çözünürlük sınırı aşılmış ve tungsten filament SEM’in daha önce yalnızca alan emisyonlu SEM’lerle elde edilebilen düşük voltajlı analiz görevlerini gerçekleştirmesi sağlanmıştır.