Açıklama

ULTRA-HIGH RES FESEM -SEM 5000 X ELEKTRON MİKROSKOP

Ultra-high Res FESEM | SEM5000X

Ultra-high Resolution Field Emission Scanning Electron Microscopy (FESEM) Challenges the Limits

CIQTEK SEM5000X, genel sapmaları %30 oranında azaltan, 0,6 nm@15 kV ve 1,0 nm@1 kV’luk ultra yüksek çözünürlük elde eden optimize edilmiş elektron optik kolon tasarımına sahip ultra yüksek çözünürlüklü bir FESEM’dir. Yüksek çözünürlüğü ve kararlılığı, onu gelişmiş nano yapısal malzeme araştırmalarında ve yüksek teknoloji düğüm yarı iletken IC yongalarının geliştirilmesi ve üretiminde avantajlı hale getirir.